console 1篇

[Android稳定性] 第045篇 [问题篇] Kernel panic - not syncing: Attempted to kill init! exitcode=0x00007f00

在测试DDR TT和Reboot测试专项过程中，机器出现了多次dump，且dump根因相同。通过分析panic现场，发现是由于UFS初始化失败导致的。具体来说，是在`ufshcd_complete_dev_init`函数中，对`fDeviceInit`标志的轮询超时，导致无法挂载必要的分区，最终引发panic。 为了进一步定位问题，我们在`ufshcd_complete_dev_init`函数中添加了debug patch，增加了时间戳计算和日志输出。通过新的dump分析，发现异常发生在轮询`fDeviceInit`标志的过程中，时间从2.25秒突然跳到了7.15秒，中间没有日志输出，表明存在长时间阻塞。 通过trace32分析，发现一个名为`kworker/6:1`的线程出现了明显的异常，执行时间长达4386毫秒。进一步分析该线程的栈和寄存器信息，发现其最后一次执行的函数是`kfree_rcu_monitor()`，即用于回收内存的后台回调。结合CPU栈分析，发现大部分CPU都在执行串口输出相关的函数，如`qcom_geni_serial_poll_tx_done`。 综合以上分析，根本原因是UFS函数执行时被高优先级的串口输出调度出去。串口输出在持锁状态下运行，不允许调度，直到输出结束；同时，阻塞式串口写函数会主动spin等待硬件完成，长时间占用CPU，导致UFS函数无法正常执行，最终引发panic。